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近红外光谱分析仪

近红外光谱分析仪

简要描述:

近红外光谱分析仪(PSS)的设计使其可以实现灵活的配置,可为各种应用提供最有利的解决方案。 将合适的探头、光谱仪和软件进行各种组合以满足不同应用的需求。系统使用标准化的组件,以确保在集成过程中的高精度和易用性。PSS系统基于成熟的技术,提供满足特定应用的解决方案,安全且易于集成。

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概述

从原料检验到最终产品控制,Polytec 近红外光谱分析仪(PSS)为提高生产过程的经济效益开创了许多可能性。

 

过程分析的决定性优势是可实现对生产过程的全自动化实时控制。除了确保产品质量的一致性外,也可以对生产过程本身进行监控和优化。过程分析可实现高质量、低成本且便捷的解决方案,从而实现快速投资回报。 该方法可应用于不同的生产环节:进货检验、过程控制和100%的终端产品分类。许多相关参数可以从一次测量中获得。例如,定性和定量化学分析,或者层厚度测量是典型的应用。

 

Polytec 近红外光谱分析仪(PSS)的设计使其可以实现灵活的配置,可为各种应用提供最有利的解决方案。 将合适的探头、光谱仪和软件进行各种组合以满足不同应用的需求。系统使用标准化的组件,以确保在集成过程中的高精度和易用性。PSS系统基于成熟的技术,提供满足特定应用的解决方案,安全且易于集成。

 

实验室和工业应用根据所需的典型测量和输出需求而有所不同。 为了在实验室中进行数据采集,我们的软件包提供了全面测量功能以实现快速高效的数据采集。对于工业在线应用,我们提供可配置的解决方案,从细节的特定测量设置到与过程控制系统进行通信。 我们的软件产品组合还包括由成熟的多元数据分析供应商提供的一系列兼容软件包

 

Polytec (PSS)与标准的化学计量学软件包完全兼容,便于进行光谱测量的多元数据分析。 这些软件包可以成功用于化学计量学方法的计算、开发以及过程分析中的在线预测。目前 , 我们提供来自以下合作伙伴的各种化学计量学软件:

1) Camo (The Unscrambler® X)

2) SensoLogic (Calibration Wizard)

3) Umetrics (Simca)

 

技术规格

1) 集成 20W 钨卤素光源用于样品照射

2) SMA 905 光纤连接

3) 工业防护等级 IP64

4) 带蓝宝石窗的不锈钢外壳(仅接触式探头)

5) 配置可满足食品行业通行法规或防爆认证(仅接触式探头)

6) 适用的测量距离从 150 毫米到 600 毫米不等(非接触式探头)

7) 通过光源和传感器单元的组合,适用的测量距离从0 到 50毫米不等(接触式探头)

 

技术特点

1) 是过程分析中最重要和最广泛使用的方法之一。无损,无创,无需样品制备,不产生浪费

2) 采用二极管阵列技术,即使在高测量速率下也能提供稳定可靠的测量结果

3) 创新的透射光栅的设计,能够实现最大的灵敏度和极低的散射光( 对比度 > 1:50,000 ),同时保证长期稳定性

4) 全自动的系统校准,可调整的测量光斑大小

5) 标准化的光谱范围,极低的散射光水平,极高的测量速率,接近理论极限的均匀的光学分辨率

6) 接触式和非接触式探头专为工业应用而设计,可满足苛刻的现场要求,无惧灰尘、湿气、压力和温度等种种因素的影响,符合通用的生产和安全规定,例如可以用于食品工业或防爆区

7) 可通过多探头光学切换模块实现一台设备配套多个探头的应用,实现多条生产线互不干扰的实时过程监控和控制

8) 提供标准模块化的设备和软件,高度的灵活性,易于集成,简化操作

 

客户价值

1) 从原材料的实时检测到最终产品的质量控制的生产全过程,通过减少废品率来提高效率和降低成本

2) 对整个生产过程的自动实时控制,确保产品的质量稳定性,对生产工艺过程实现全程监测并进行优化

3) 一台仪器可以测量多个参数,降低客户设备投资成本

4) 无需样品制备过程,加快检测通量

5) 对待测样品丝毫不产生破坏,非侵入性测量,也不存在样品消耗

6) 为每位客户制定详细的年度维护及预防性维修方案,保证设备长期连续可靠运行,真正实现极低的使用和维护成本

7) 便捷的操作和维护

 

应用

1) 固体(如散装货物 ,粉末 ,纸张或纺织品)

2) 流体(例如液体 ,悬浮液 ,扩散和粘性介质)

3) 气体(如气溶胶或烟雾)

4) 非接触式探头用于远距离测量的反射探头( 传送带、网状应用等等 )

5) 接触式探头用于近距离或与样品直接接触( 管道,滑槽,漏斗等 )测量

6) 青贮玉米检测

7) 饲料检测

8) 食品

9) 制药

10) 工业在线质控

11) 产品筛选(例如按照颗粒大小分类,或按照成分不同进行分类)

12) 膜层厚度测量

 

可选配置

型号:PSS 1720

光谱范围:850 – 1650 nm

检测器:InGaAs

像素:256

分辨率:<6.4 nm或<9.5 nm

 

型号:PSS 1750

光谱范围:850 – 1650 nm

检测器:InGaAs

像素:512

分辨率:<3.2 nm或<4.8 nm

 

型号:PSS 2120

光谱范围:1100 – 2100 nm

检测器:InGaAs

像素:256

分辨率:<7.9 nm或<11.9 nm

 

型号:PSS 2220

光谱范围:1200 – 2200 nm

检测器:InGaAs

像素:256

分辨率:256 <7.9 nm或<11.9 nm

 

配套附件

1) 多探头光学切换模块

2) 直线型单光纤光缆

3) 探头电源和控制电缆

4) 探头支架

5) 旋转台

 

技术原理

与常用的化学分析方法不同,近红外光谱分析法是一种间接分析技术,是用统计的方法在样品待测属性值与近红外光谱数据之间建立一个关联模型(或称校正模型,Calibration Model)。近红外光谱法是利用含有氢基团(X-H,X为:C,O,N,S 等)化学键(X-H)伸缩振动倍频和合频,在近红外区的吸收光谱,通过选择适当的化学计量学多元校正方法,把校正样品的近红外吸收光谱与其成分浓度或性质数据进行关联,建立校正样品吸收光谱与其成分浓度或性质之间的关系(校正模型)。在进行未知样品预测时,应用已建好的校正模型和未知样品的吸收光谱,就可定量预测其成分浓度或性质。

 

制造商简介

Polytec GmbH:先驱者,创新者,完美主义者。

 

Polytec在全球拥有400多名员工,为研究和行业开发,生产和销售光学测量技术解决方案。优质的创新产品在专业领域享有盛誉,并根据客户的日常需求量身定制专属的解决方案。 

 

今天,Polytec专注于科技领域:

 

1) 震动测量

2) 测速

3) 3D表面测量

4) 过程分析

5) 图像处理

6) 其他光学系统

 

Polytec的技术应用于众多专业领域,包括:航空航天,医疗,纳米技术,机械工程领域等。Polytec的测量技术在这些领域都能帮助企业树立并巩固其技术领先地位。用户在测量敏感的生产流程,产品质量时都会依赖于Polytec的测量技术。 

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